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光伏電站IV曲線測試的目的：測量串開路電壓（Voc）和短路電流（Isc）以及極性；Z大功率點電壓（Vmpp）、電流（Impp）和峰值功率（Pmax）的測量；光伏組件/組串填充系數(shù)FF的測量；識別光伏組件/陣列缺陷或遮光等問題；積塵損失、溫升損失，功率衰減、串并聯(lián)適配損失計算等。

iv曲線測試儀的基礎(chǔ)概念：Voc開路電壓；Isc短路電流；Vmpp Z大功率點電壓；Impp Z大功率點電流；Pmax峰值功率。
    IV曲線的基礎(chǔ)概念：填充因子FF是太陽能電池品質(zhì)的量度，定義為實際的Z大輸出功率除以理想目標(biāo)的輸出功率(Isc?Voc)，F(xiàn)F越大，太陽能電池的質(zhì)量越高。FF的典型值通常處于60~85%，并由太陽能電池的材料和器件結(jié)構(gòu)決定。
    影響IV曲線的因素：輻照度越大，短路電流越大，輻照度對于開路電壓影響不大。
    溫度越高，開路電壓越小，溫度對短路電流影響不大；溫度一定的情況下，輻照度越高，組件輸出功率越大；組件的IV曲線分析：STC狀態(tài)下的組件電參數(shù)。
    組件的IV曲線分析：IV曲線測試儀測試的數(shù)值轉(zhuǎn)換到STC條件下的值和廠家出廠的datasheet值進行對比才有意義
    IV曲線測試步驟：確保待測組串和逆變器斷開；被測試組串應(yīng)該隔離并連接到I-V曲線測試設(shè)備；根據(jù)被測試組件的特性、類型和數(shù)量對測試儀器進行設(shè)置；與I-V曲線測試儀相關(guān)的輻照度計應(yīng)安裝成與陣列平面匹配，并對其進行檢查以確保其不受任何局部遮光或反射光的影響。在使用參考電池裝置的情況下，應(yīng)對其進行檢查，以確保其與被測陣列具有相同的電池技術(shù)，或者針對技術(shù)上的差異進行適當(dāng)?shù)男拚?br/>    IV曲線測試步驟：I-V曲線測試儀使用電池溫度探頭時，它應(yīng)與組件后部緊密接觸，并且在朝向模塊中心的電池中心，同時檢查并且串Voc值在期望的范圍內(nèi)。在輻照度達到儀器要求值并穩(wěn)定時開始測試。
    IV曲線測試接線：注意事項：參考組件和待測組件保持水平；背板溫度傳感器放置待測組件中心位置；輻照度不穩(wěn)定時或過低時會影響STC換算。
    IV曲線評估：1、階梯或凹陷；2、低電流；3、低電壓；4、圓膝；5、豎直腿淺坡；6、水平腿陡坡。
    IV曲線評估-階梯或凹陷：I-V曲線中的階梯或凹陷表示被測試的陣列或組件的不同區(qū)域之間的不匹配情況，可能會有如下情況引起：陣列或組件局部遮擋；陣列或組件局部污漬或以其他方式遮蔽（比如雪等）；PV電池片/組件損壞；旁路二極管短路。
    IV曲線評估-低電流：許多因素可以導(dǎo)致預(yù)期電流和測量電流之間的變化，這些總結(jié)如下
    陣列原因：均勻污染；條紋遮擋（縱向組件）；污垢壩（縱向組件）；光伏組件劣化。
    建模原因：PV組件數(shù)據(jù)輸入錯誤；錯誤地輸入多個并聯(lián)串。
    IV曲線評估-低電壓：電壓變化的潛在原因包括以下陣列原因：旁路二極管導(dǎo)通或短路；光伏串的組件數(shù)量錯誤；電勢誘導(dǎo)衰減（PID）；對整個電池片/組件/組串有明顯的、均勻的遮擋。
    建模原因：錯誤地輸入PV組件數(shù)據(jù)；錯誤輸入串中的組件數(shù)目。
    測量原因：PV電池溫度與測量值不同，IV曲線評估-圓膝：I-V曲線的膝蓋的倒圓可能是老化過程的表現(xiàn)。在得出結(jié)論之前，檢查I-V曲線的水平和垂直腿的斜率。如果它們已經(jīng)改變，則會在膝蓋的形狀中產(chǎn)生視覺上類似的效果。
    IV曲線評估-豎直腿中的淺坡：Z大功率點（Vmpp）和Voc之間的I-V曲線的后一部分的斜率受到對被測電路的串聯(lián)電阻的影響。增加的電阻將減小曲線的該部分中的斜率的陡度。
    串聯(lián)電阻增加的潛在原因包括：光伏配線損壞或故障（或電纜尺寸不足）；組件或陣列互連處故障（連接不良）；組件自身串聯(lián)電阻增加（電池片連接導(dǎo)致高阻或接線盒老化腐蝕）當(dāng)使用長電纜測試陣列時，這些電纜的電阻將影響曲線形狀，并可能對曲線產(chǎn)生影響，建議使用四線法測量。
    IV曲線評估-水平腿的陡坡：I-V曲線上部的斜率變化可能是由于；PV電池中的分流路徑；組件Isc不匹配；錐形陰影或污垢（例如污垢壩）。
    如何利用IV曲線測試儀（光伏安規(guī)測試儀）快速定位問題組件：測量組串發(fā)現(xiàn)曲線有臺階；依次遮擋單個組件，短路電流會下降，但曲線臺階基本不變；當(dāng)遮擋到某個組件發(fā)現(xiàn)曲線正常時，可判斷此組件有問題。